高分子多成分系薄膜の不均一構造を可視化するための斜入射小角X線散乱(GISAXS)-コンピュータトモグラフィ(CT)法を構築し、X線の入射角を変えることで、各侵入深さにおける面内構造の不均一を評価可能にする。例えば、テンダーエネルギー領域のGISAXS-CT法により、再表面や、深さ方向の分解能を高くすることで、三次元空間での可視化を目指している。また、本研究室では、バルク状態における小角X線散乱,、超小角X線散乱による高分子材料の階層構造解析、また小角X線散乱、超小角X線散乱とCT法を組み合わせて、構造の空間不均一性を可視化するSAXS-CT法による構造解析も行なっており、企業の皆様からの様々な構造の解析についてのご相談をお受けしたいと考えている。